我們知道，粒度檢測的方法很多，包括篩分法、沉降法、離心法、圖像法、電阻法、聲光譜法、激光衍射法、動態(tài)光散射法等，每種粒度檢測方法的原理不同，對同一樣品的測試結果也有所差異，每種檢測方法都有一定的優(yōu)勢和局限性，需要根據(jù)行業(yè)特點選擇合適的檢測手段。
金屬粉末粒徑分析儀引入了光學設計，采用供應鏈體系，使激光衍射法的測試范圍達0.01-3600um，代表了當前的高技術水平。保持了量程寬、重復性好、分辨力高、真實測試性能強和智能化程度高等優(yōu)點，通過進一步提升光學設計、硬件和反演算法，拓展了其測試范圍以及實際測試性能，應用遍及化工、機械、建材、能源等現(xiàn)代工業(yè)的各個領域。
金屬粉末粒徑分析儀具有光參數(shù)穩(wěn)定、效率高、壽命長、不怕振動等一系列優(yōu)點，克服了傳統(tǒng)氣體激光器由于自然漏氣，需定期更換的缺點。由于無須沉降過程，使測試速度大幅度提高，在通常情況下，1分鐘內(nèi)即可完成一次樣品測試。
在實際測試中，儀器獲得信號是復合的，即一次探測獲取信號是多個顆粒信號疊加的結果。基于不同粒徑顆粒光能分布特性，用特定算法將復合信號拆分開來，得到所檢測多個顆粒的粒徑。由于不同探測器信號差別巨大（大顆粒散射光強度遠大于小顆粒），且有光源不穩(wěn)定，背景噪音等因素的影響，對軟件算法的要求也非常高。因為不同型號光學設計和探測器分布是不同的，因此軟件算法也必然不同。在反演計算過程中會出現(xiàn)結果的不同。在不同硬件設計的儀器條件下，粒徑等效的條件是有差異的，加之反演算法也不盡相同，如此即會造成測量結果的不同。一般來說，不同的粒度儀器，對同一樣品得到不同粒度測量結果，只要這些結果在可信的范圍內(nèi)都是正常的（除非是標準球形樣品），都是對樣品粒徑真實性的反映。
