超高速智能粒度分析儀采用的計算機技術(shù)與激光原理相結(jié)合，充分發(fā)揮了各自的優(yōu)勢，使粉體的粒度分析變得快速方便，滿足了粉體行業(yè)粒度分析的基本需要。再加上儀器生產(chǎn)廠家廣泛的宣傳(儀器分析快速、，精度高，分析精度0.001μm)，因此該儀器得到快速發(fā)展和應用。
一個完整測量過程包括電子背景測量，光學背景測量和對光，加入樣品，開始粒徑測量，完成測量。進入測量過程后，軟件界面的左下方會有對話框指示測量的進程。
1、測量背景：顆粒區(qū)的測量數(shù)據(jù)，由于受到設(shè)備電子背景噪音，測試光路中鏡面灰塵，以及分散介質(zhì)中的雜質(zhì)顆粒影響會有一定的偏差。通過“測量背景”能純化粒徑測量，上述的背景信息和數(shù)據(jù)會從樣品測量數(shù)據(jù)中減去以得到的數(shù)據(jù)。
2、加入樣品：在背景測量結(jié)束后，出現(xiàn)加入樣品提示。左方遮光度指示欄直觀地表示測量樣品的數(shù)量，遮光度會隨著樣品數(shù)量的增加而逐漸增高。在未加入樣品前，右方的測量數(shù)據(jù)柱狀圖應該是隨機變化，而且柱狀數(shù)據(jù)條的高度一般不超過5。
3、開始測量：當遮光度達到測量要求，停止添加樣品后保持穩(wěn)定(一般意味著樣品顆粒沒有發(fā)生溶解或凝聚，樣品顆粒正常穩(wěn)定分散)，同時測量數(shù)據(jù)窗口顯示穩(wěn)定的，足夠強度的柱狀數(shù)據(jù)分布，可以按下“Start”鍵開始測量。
不同的光學設(shè)計（例如直線式光路設(shè)計和折疊式光路設(shè)計，透鏡后/前傅立葉變換，激光光束大小等），不同尺寸、焦距規(guī)格的傅立葉透鏡，不同的探測器數(shù)量和分布以及其靈敏度和噪音水平，不同規(guī)格的光學部件等都會造成相同顆粒所得到的光能分布的差異。同樣的道理，如果測量儀器光路或光學器件出現(xiàn)了狀態(tài)變化也會引起結(jié)果的偏差。
