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納米粒度分析儀

簡要描述:

Nanolink S901系列是真理光學(xué)在SZ900基礎(chǔ)上基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度分析系統(tǒng),采用動態(tài)光散射(DLS)技術(shù)進(jìn)行納米粒度測量,被廣泛應(yīng)用于有機(jī)或無機(jī)納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚傾向性的檢測和分析。

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Nanolink S901的性能和主要特點(diǎn)包括:

經(jīng)典90°動態(tài)光散射技術(shù)測量粒徑,測量范圍覆蓋0.3nm – 15μm

加持自動恒溫技術(shù)的功率可達(dá)50mW, 波長638nm的固體激光光源,儀器即開即用

激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術(shù)

信號光與參考光的光纖合束及干涉技術(shù)

集成光纖技術(shù)的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器

常規(guī)溫度控制范圍可達(dá)-15°C~120°C,精度±0.1°C

新一代高速數(shù)字相關(guān)器,動態(tài)范圍大于1011

冷凝控制 干燥氣體吹掃技術(shù)


技術(shù)指標(biāo):

測量原理動態(tài)光散射(DLS)、靜態(tài)光散射(SLS)、電泳光散射(ELS)
粒徑測量角度90°,12°(Zeta電位)
粒徑測量范圍0.3nm -15um*
粒徑測量最小樣品量3ul*
粒徑測量最小樣品濃度0.1mg/ml
粒徑測量最大樣品濃度40%/wv**
檢測點(diǎn)位置距入射點(diǎn)0~5mm可調(diào)
檢測點(diǎn)定位精度0.01mm
Zeta電位測量技術(shù)余弦擬合位相分析法(CF-PALS)
Zeta電位測量范圍無實(shí)際限制
適用Zeta電位測量的粒徑1nm - 120μm*
遷移率范圍最小0,最大無實(shí)際限制
最大電導(dǎo)率270mS/cm
電極插入式平板電極、U型毛細(xì)管電極
分子量范圍340Da - 2x107Da
其它高級測量/計算功能介質(zhì)粘度、折光率、樣品透過率/濃度、第二維利系數(shù)、顆粒間相互作用力系數(shù)和聚集度指數(shù)
光源集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的最大功率50mW, 波長638nm固體激光器
光強(qiáng)度調(diào)整范圍自動調(diào)節(jié),0.0001%~100%
相關(guān)器高速數(shù)字相關(guān)器,自適應(yīng)通道配置
檢測器高靈敏度APD
溫度控制范圍-15°C ~ 120°C
溫度控制精度±0.1°C
進(jìn)樣方式手動/自動
樣品池(選配)12mm比色皿、3μL毛細(xì)管超微量樣品池、40μL微量樣品池
環(huán)境要求5-40℃,10%-80%相對濕度(無凝結(jié))
工作電源AC100V-240V,標(biāo)準(zhǔn)接地,直流電源供電24V/5A
系統(tǒng)重量16kg
外形尺寸365mm 475mm x 180mm (LxWxH)


注:* 取決于樣品及樣品池選件    ** 取決于測量角度 


聯(lián)系方式
  • 電話

    0756-8629811

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